NF C86-503-1986 半导体器件.电子元器件统一质量评审体系.光电晶体管、光电复合晶体管和光电半导体电路.空白详细规范CESS20003

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【英文标准名称】:StandardPracticeforIdentificationofPolymerLayersorInclusionsbyFourierTransformInfraredMicrospectroscopy(FT-IR)
【原文标准名称】:傅里叶变换红外线显微光谱法识别聚合物层或夹杂物的标准实施规范
【标准号】:ASTMD5477-2002
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:D20.70
【标准类型】:(Practice)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Fouriertransforminfraredspectroscopy(FT-IR);infraredmicroscopy;infraredspectroscopy;microsampling;visiblelightpolarizer
【摘要】:Aspeckwillultimatelycauseafailuretooccurbyvirtueofitsappearanceinafilmorbythedecreaseinelectricalormechanicalpropertiesinthepolymersubstrate(seeSpecificationD1248).T
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:83_140_20
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:

标准名称：	电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
英文名称：	Method of analysis by emission spectrum of impurities in Titanium dioxide for use in electronic ceramics
中标分类：	电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子技术专用材料
替代情况：	被SJ/T 10552-1994代替
发布日期：
实施日期：	1988-06-01
首发日期：
作废日期：
出版日期：
页数：	3页

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