EN 62418-2010 半导体器件.金属化应力空隙试验(IEC62418-2010);德文版本EN62418-2010
作者:标准资料网 时间:2024-05-29 01:07:26 浏览:8032
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Metallizationstressvoidtest(IEC62418:2010);GermanversionEN62418:2010
【原文标准名称】:半导体器件.金属化应力空隙试验(IEC62418-2010);德文版本EN62418-2010
【标准号】:EN62418-2010
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2010-12
【实施或试行日期】:2010-12-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Aluminium;Coatings;Copper;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Metalcoating;Metallicsurfaces;Migration;Reliability;Resistance;Semiconductordevices;Stress;Stresstests;Testtemperatures;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:25_220_40;31_080_01
【页数】:19P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.金属化应力空隙试验(IEC62418-2010);德文版本EN62418-2010
【标准号】:EN62418-2010
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2010-12
【实施或试行日期】:2010-12-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Aluminium;Coatings;Copper;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Metalcoating;Metallicsurfaces;Migration;Reliability;Resistance;Semiconductordevices;Stress;Stresstests;Testtemperatures;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:25_220_40;31_080_01
【页数】:19P;A4
【正文语种】:英语
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